Метод учета взаимных покрытий и затмений в системе двойного астероида при решении фотометрических задач
Сообщения ИПА РАН, № 131 (1999)
Ключевые слова: двойной астероид, взаимные явления, эллипсоиды, кривая блеска, фотоцентр
Текст статьиАннотация
Для решения фотометрических задач разработан метод учета взаимных покрытий и затмений компонентами двойного астероида путем разбиения поверхности тел на элементарные площадки и суммирования создаваемых ими освещенностей. Компоненты аппроксимируются трехосными эллипсоидами. Получена модельная кривая блеска гипотетического двойного астероида. Осуществлено тестирование данного метода на примере системы Плутон-Харон. Проведено исследование кривой блеска и изменения положения фотоцентра астероида 1994 AW.